泰克為解決工程難題不斷創(chuàng)新，使用測(cè)試界的魔法棒——光隔離探頭，幫工程師一起破解SiC、GaN柵極動(dòng)態(tài)測(cè)試難題。通過(guò)將探頭與示波器的電流隔開(kāi)，IsoVu探頭完全改變了功率研究人員和設(shè)計(jì)人員進(jìn)行寬禁帶功率測(cè)量的方式。
泰克為解決工程難題不斷創(chuàng)新，使用測(cè)試界的魔法棒——光隔離探頭，幫工程師一起破解SiC、GaN柵極動(dòng)態(tài)測(cè)試難題。通過(guò)將探頭與示波器的電流隔開(kāi)，IsoVu探頭完全改變了功率研究人員和設(shè)計(jì)人員進(jìn)行寬禁帶功率測(cè)量的方式。
SiC、GaN作為最新一代功率半導(dǎo)體器件具有遠(yuǎn)優(yōu)于傳統(tǒng) Si 器件的特性，能夠使得功率變換器獲得更高的效率、更高的功率密度和更低的系統(tǒng)成本。但同時(shí)，SiC、GaN極快的開(kāi)關(guān)速度也給工程師帶來(lái)了使用和測(cè)量的挑戰(zhàn)，稍有不慎就無(wú)法獲得正確的波形，從而嚴(yán)重影響到器件評(píng)估的準(zhǔn)確、電路設(shè)計(jì)的性能和安全、項(xiàng)目完成的速度。SiC、GaN動(dòng)態(tài)特性測(cè)量中，最難的部分就是對(duì)半橋電路中上橋臂器件驅(qū)動(dòng)電壓VGS的測(cè)量，包括兩個(gè)部分：開(kāi)關(guān)過(guò)程和Crosstalk。此時(shí)是無(wú)法使用無(wú)源探頭進(jìn)行測(cè)量的，這會(huì)導(dǎo)致設(shè)備和人員危險(xiǎn)，同時(shí)還會(huì)由于跳變的共模電壓而無(wú)法獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。
SiC、GaN作為最新一代功率半導(dǎo)體器件具有遠(yuǎn)優(yōu)于傳統(tǒng) Si 器件的特性，能夠使得功率變換器獲得更高的效率、更高的功率密度和更低的系統(tǒng)成本。但同時(shí)，SiC、GaN極快的開(kāi)關(guān)速度也給工程師帶來(lái)了使用和測(cè)量的挑戰(zhàn)，稍有不慎就無(wú)法獲得正確的波形，從而嚴(yán)重影響到器件評(píng)估的準(zhǔn)確、電路設(shè)計(jì)的性能和安全、項(xiàng)目完成的速度。SiC、GaN動(dòng)態(tài)特性測(cè)量中，最難的部分就是對(duì)半橋電路中上橋臂器件驅(qū)動(dòng)電壓VGS的測(cè)量，包括兩個(gè)部分：開(kāi)關(guān)過(guò)程和Crosstalk。此時(shí)是無(wú)法使用無(wú)源探頭進(jìn)行測(cè)量的，這會(huì)導(dǎo)致設(shè)備和人員危險(xiǎn)，同時(shí)還會(huì)由于跳變的共模電壓而無(wú)法獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。
IsoVu光隔離探頭
隔離探頭使用電（光學(xué)）或 RF隔離將探頭的參考電壓與示波器的參考電壓（通常接地）隔離。這使電源設(shè)計(jì)人員能夠在存在大共模電壓的情況下準(zhǔn)確解析高帶寬、高電壓的差分信號(hào)。泰克開(kāi)發(fā)出一項(xiàng)新技術(shù) (IsoVu)，該技術(shù)使用電隔離在高帶寬內(nèi)提供同類(lèi)探頭中優(yōu)秀的共模抑制性能。
與用于測(cè)量高壓信號(hào)的高帶寬傳統(tǒng)差分探頭相比，隔離性和高頻性相結(jié)合的 IsoVu 探頭為電源設(shè)計(jì)人員提供更精確的測(cè)量結(jié)果。應(yīng)用案例涵蓋開(kāi)關(guān)模式電源設(shè)計(jì)、寬禁帶 GaN 和 SiC 設(shè)備的功率 FET 設(shè)計(jì)/分析、逆變器設(shè)計(jì)、電機(jī)驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)、BCI 或 ESD 測(cè)量、電流分流器測(cè)量。
泰克第二代IsoVu光隔離示波器探頭推動(dòng)第三代半導(dǎo)體發(fā)展，為電源行業(yè)帶來(lái)技術(shù)革新。第二代IsoVu光隔離示波器探頭提供了無(wú)與倫比的帶寬、動(dòng)態(tài)范圍、共模抑制以及多功能MMCX連接器的組合，為上管Vgs測(cè)量設(shè)置了新的標(biāo)準(zhǔn)，設(shè)計(jì)者終于能看到以前隱藏的信號(hào)特征。
主要特性
? 1 GHz光隔離探頭
? 更小的尺寸提升了DUT連接的便攜性
? 行業(yè)領(lǐng)先的的CMRR特性
? 完全光隔離技術(shù)
? 完整測(cè)試系統(tǒng)
? 比第一代探頭體積縮小80%。
