功率半導體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)(實驗室)
了解更多KC3110功率半導體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng),基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規(guī)級模塊的新興要求而進行的一次高標準產(chǎn)品開發(fā)。本系統(tǒng)可以在3KV和1000/2000A的條件下實現(xiàn)精確測量和參數(shù)分析,漏電流測試分辨率高達fA級,電壓測試分阱率最高可這nV級,以及3000V高壓下的寄生電容的精密測量。全自動程控軟件,圖型化上位機操作界面。內(nèi)置開關切換矩陣保證測試效率。模塊化結構設計預留升級擴展?jié)撃?。測試接口可外掛各類夾具和適配器,還能夠通過專用接口連接各種Handler:如分選機、機械手、探針臺、編帶機等。