KC- 3130 功率循環(huán)&熱特性智能檢測(cè)系統(tǒng)
了解更多現(xiàn)代寬禁帶功率器件 (SiC, GaN) 上的開關(guān)晶體管速度越來越快,使得測(cè)量和表征成為相當(dāng)大的挑戰(zhàn)。AQG 324特別突出了功率循環(huán)試驗(yàn),在整個(gè)SiC-MOSFET壽命試驗(yàn)相關(guān)內(nèi)容中,功率循環(huán)試驗(yàn)不僅被列為首項(xiàng),且占據(jù)的篇幅超過其他所有試驗(yàn)項(xiàng)目之和。